サイエンス
NTTと北大の研究から、宇宙線が水冷コンピューターの誤作動を引き起こす可能性が示唆された
これまで半導体ソフトエラーの発生メカニズムや影響範囲は不明だったが、この度、NTTと北海道大学は、高精度測定装置により、これまで明らかになっていなかった、中性子がもたらす10 meV～1 MeVの低エネルギー領域における […]
Term
熱中性子
Overview
最終更新: 2026年7月9日物質中を通過する際に原子核との衝突を繰り返し、周囲の原子の熱運動と平衡状態に達した低エネルギー（約0.025eV程度）の中性子。水やプラスチックなどの水素を含む物質を通過することで生成されやすく、半導体のソフトエラー率を高める要因となる。