Term

透過型電子顕微鏡

別名: TEM

Overview

最終更新: 2026年7月9日

電子線を薄い試料に照射し、透過した電子が作る像を観察する顕微鏡。原子レベルの解像度を持ち、グラフェンの層構造などを直接観察することができる。

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