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FIB-SEMトモグラフィー

Overview

最終更新: 2026年7月9日

集束イオンビーム(FIB)で試料表面をナノメートル単位で薄く削り取り、その断面を走査型電子顕微鏡(SEM)で観察する工程を繰り返すことで、材料内部の微細な三次元構造を再構築・解析する手法。本研究では、コンクリート内部におけるカーボンブラックのナノネットワーク構造を解明するために使用された。

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