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多スライス電子タイコグラフィ

別名: MEP, Multi-slice Electron Ptychography, 多スライス電子タイコグラフィ

Overview

最終更新: 2026年7月9日

電子顕微鏡において、試料を透過・散乱した電子の回折パターンを連続的に記録し、位相回復アルゴリズムを用いて3次元構造を復元する技術。従来の電子顕微鏡が苦手としていた「奥行き方向」の情報を、試料を仮想的なスライスに切り分ける計算処理によって高精度に可視化できる。原子レベルの3D配置や局所的な電荷分布を直接観測することが可能。

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