Term

極低温プロービング・プロセス

別名: Cryogenic probing process

Overview

最終更新: 2026年7月9日

Intelが開発した、300mmウェハー上のスピン量子ビット・デバイスを極低温(約1ケルビン)環境下で自動的にテスト・評価するプロセス。従来の単一デバイス測定に比べ数桁高速にデータを収集でき、製造の均一性や忠実度の統計的把握を可能にする。

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