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可変温度粉末X線回折

可変温度粉末X線回折とは、温度を変化させながら粉末試料にX線を照射し、結晶構造の相転移や熱分解過程をリアルタイムで追跡する分析手法である。半導体材料や電池材料の相図構築、新規結晶相の探索に用いられる。

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